Como parte de los Boundary Scan Days 2014, GOEPEL electronic introduce la placa de evaluación CION LX (EVB), diseñada para demostrar las capacidades de las pruebas técnicas del Tester on Chip (ToC) controlable CION LX JTAG.
La placa de evaluación CION LX (EVB) permite a los usuarios comprobar todos los modos de funcionamiento, así como las aplicaciones de desarrollo y los escenarios de prueba.
La nueva tarjeta de desarrollo ha sido diseñada en una tecnología de 0,35 micras de señal mixta CMOS y proporciona cuatro puertos de E/S independientes. Cada puerto puede operarse de forma individual en un rango de voltaje de 0,9 V a 3,6 V. Los pines del circuito son accesibles a través de los conectores, y la placa también proporciona recursos adicionales como varios LED y un generador de reloj ajustable de hasta 170 MHz, que es una base ideal para mediciones de frecuencia de rastreo o grabaciones de señal en el registrador de forma de onda digital.
El control de las características se lleva a cabo a través del puerto JTAG, y el conector TAP permite el acceso directo a través de los controladores de exploración de límite (Boundary Scan), tal como el PicoTAP.
Aplicaciones de la placa de evaluación CION LX
Usando la placa de evaluación, los usuarios pueden verificar todos los modos de funcionamiento, así como desarrollar sus propias aplicaciones y escenarios de prueba. Como resultado, se puede lograr toda la gama de rendimiento de los chips CION LX y el potencial de la tecnología embebida de acceso del sistema (ESA).
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